布魯克三維光學輪廓儀ContourX-1000

落 地 式 ContourX-1000 白 光 干 涉（WLI） 系 統(tǒng) 集 成 了Bruker 在 硬 件 和 軟 件 上 的  新 技 術， 可 用 于 全 自 動 三維表面紋理和粗糙度測量。
全新的一鍵式高級尋找表面（Advanced Find Surface ）功能結合自動聚焦和自動照明功能，無需每次測量前手動查找樣品表面，極大提升了用戶體驗且縮短測量時間。結合自適應測量模式 USI 和簡潔的引導式VisionXpress操作界面，ContourX-1000 在任何表面，任何操作人員，甚至多用戶高負荷的生產設備下都可提供不打折扣的精確測量。

特點：

·可傾斜 / 俯仰光學頭、雙光源和先進的自動化功能可提供快速、靈活的生產車間內測量。
·自校準激光和集成的防震臺可確保測量準確性和可靠性。
·提供的測量和分析軟件帶有簡潔且有引導性的程序和模式，更大程度的方便用戶使用。

光學輪廓分析設備硬件設計

ContourX-1000 集成有 Bruker 的傾斜 / 俯仰光學頭，*的雙光源、自動化的物鏡轉盤和樣品臺，以及可選配的晶圓卡盤。這些創(chuàng)新可為幾乎所有的在研發(fā)和生產中的應用提供快速且解決方案，包括有難度的表面和深溝槽結構。

強大的自動化測量和分析

全局掃描干涉 (USI) 自適應測量模式可自動確定測量參數(shù)，即使在幾十微米尺度內也可確保納米級分辨率。
簡潔的且?guī)в幸龑缘?VisionXpress交互界面可去除操作人員經驗水平的影響，快速得到佳測試結果。
即使在多用戶環(huán)境中，每個使用者都可通過高級查找表面功能，自動聚焦功能和自動照明調整功能獲取高 質 量 的 結 果。 使 用 全 套 兼 容 的軟件包，從SureVison和多區(qū)域分析 到 Vision64 Map  和 膜 測 量，ContourX-1000 都 可 提 供  的測量來滿足您特定的應用需求。

測量準確性與魯棒性的基準

除 擁 有 Bruker  干 涉 技 術 測 量 和 成 像 能 力 之 外，ContourX-1000 還 配 備 了 專 屬 的 內部參考激光和防震臺以獲取大的穩(wěn)定性和與其他工具的匹配能力。
即使在嘈雜的環(huán)境中，該系統(tǒng)也能確保測量性能。

布魯克三維光學輪廓儀ContourX-1000